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边界扫描技术的详细资料描述

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  • 标      签: 边界扫描 JTAG IEEE

资 源 简 介

安捷伦边界扫描软件包支持符合IEEE标准1149.1的数字设备的测试。测试开发人员可以有效和高效地测试数字设备,同时显著减少测试开发时间。当边界扫描被实现时,故障覆盖和诊断可以增加。本章提供了关于边界扫描和IEEE标准1149.1的概述和背景信息。   边界扫描(Boundary Scan)测试发展于上个世纪90年代,随着大规模集成电路的出现,印制电路板制造工艺向小,微,薄发展,传统的ICT 测试已经没有办法满足这类产品的测试要求。由于芯片的引脚多,元器件体积小,板的密度特别大,根本没有办法进行下探针测试。一种新的测试技术产生了,联合测试行为组织(Joint Test Action Group)简称JTAG 定义这种新的测试方法即边界扫描测试。
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