资 源 简 介
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引 言 2实验一 半导体激光器P-I特性参数测量 4实验二 半导体光电检测器参数测量 8实验三 光纤无源器件参数测量 15实验四 光纤时域反射测量(OTDR) 20实验五 语音、图像光纤传输及波分复用（WDM） 22实验六 掺铒光纤放大(EDFA) 25实验七 光纤激光器参数测量 30实验八 光纤光栅温度传感与测量 32实验九 单模光纤损耗特性和截止波长测量 34实验十 光纤色散测量 38实验十一 光纤非弹性散射及喇曼放大(FRA) 41实验十二 电吸收调制（EAM） 46实验十三 半导体激光器光谱测量与模式分析 48实验十四 光纤马赫任德干涉测量 54实验十五 液晶显示器（LCD）电光特性曲线测量 57实验十六 辉光放电与等离子体显示（PDP） 62实验十七 多碱光电阴极光谱响应与极限电流密度测量 67实验十八 微光像增强器电子透镜调节与增益测量 71实验十九 CCD信号采集与处理 75实验二十 CCD光电摄像系统特性测量 79实验二十一 阴极射线显像管（CRT）电子聚焦与偏转 83实验二十二 MEMS微镜与DLP投影 91实验二十三 有机发光器件（OLED）参数测量 94
