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PLL相关的两个关键技术规格详细说明

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  • 上传时间:2021-07-31
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  • 标      签: 混频器 振荡器

资 源 简 介

我们将侧重于详细考察与PLL相关的两个关键技术规格:相位噪声和参考杂散。导致相位噪声和参考杂散的原因是什么,如何将其影响降至最低?讨论将涉及测量技术以及这些误差对系统性能的影响。我们还将考虑输出漏电流,举例说明其在开环调制方案中的重要意义。振荡器系统中的噪声在任何振荡器设计中,频率稳定性都至关重要。我们需要考虑长期和短期稳定性。长期频率稳定性是关于输出信号在较长时间(几小时、几天或几个月)内的变化情况。其通常以一定时间内的比率f/f来规定,单位为百分比或dB。信号源中的已知时钟频率、电力线干扰和混频器产品都可能引起离散杂散成分。随机噪声波动引起的扩张是相位噪声造成的。其可能是有源和无源器件中的热噪声、散粒噪声和/或闪烁噪声造成的。电压控制振荡器中的相位噪声在考察PLL系统中的相位噪声之前,我们先看看电压控制振荡器(VCO)中的相位噪声。理想的VCO应该没有相位噪声。在频谱分析仪上看到的输出应是一条谱线。当然,事实并非如此。输出上会有抖动,频谱分析仪会显示出相位噪声。为了便于理解相位噪声,请考虑一种相量表示方式,如图2所示。
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