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DFT分步法原理分析

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  • 上传时间:2021-06-29
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  • 标      签: 分步法 DFT

资 源 简 介

随着芯片规模的增大,低功耗不仅是在功能与性能方面对设计者的挑战越来越大,同时对于测试而言,随着SCAN CELL的增多,在SCAN测试时,芯片的功耗也会增大。功耗越大,则芯片的温度升高,导致芯片内部的电性参数发生偏移,扫描链测试失败。这对DFT(Design for Test)以及ATPCJ(AutomaTIc Test Pattern CeneraTIon)提出了更高的挑战。
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