首页| 行业标准| 论文文档| 电子资料| 图纸模型
购买积分 购买会员 激活码充值

您现在的位置是:团子下载站 > 电源技术 > IGBT寄生米勒效应电容问题产生原理和清除方法

IGBT寄生米勒效应电容问题产生原理和清除方法

  • 资源大小:398KB
  • 上传时间:2021-10-09
  • 下载次数:0次
  • 浏览次数:27次
  • 资源积分:1积分
  • 标      签: 栅极电阻 半桥 IGBT

资 源 简 介

米勒效应产生机制   在IGBT开关时,有一个会经常遇到的问题,那就是由于寄生米勒电容开通而产生米勒平台。米勒效应在单电源门极驱动过程中非常显著。基于门极G与集电极C之间的耦合,在IGBT关断期间会产生一个很高的瞬态dv/dt,这样会引发门极VGE间电压升高而导通,这里存在着潜在的风险。寄生米勒电容引起的导通   如图1所示,上管IGBT(S1)在导通时,SI处于半桥拓扑,此时SI 会产生一个变化的电压dV/dt,这个电压通过下管IGBT(S2)。电流流经S2的寄生米勒电容CCG 、栅极电阻RG和内部驱动栅极电阻 RDRIVER 。
VIP VIP